Delphi 7、FastMM 和 DUnit GUITesting 因错误内存泄漏而导致测试失败

Question

我遇到了一些 FastMM 误报问题。这次，泄漏是在测试表中的情况下发生的。它与我描述的非常相似here 。

我得到了一个表单，里面有一些普通的旧 VCL 控件。第一次测试运行显示泄漏，但实际上并不存在。第二次运行没有泄漏。我搜索了所有 DUnit 源代码，但找不到修复它的原因。有人可以帮助我吗？

我不能运行两次测试，因为: 1. 它将在持续集成中运行； 2. 有些测试确实需要一些时间，加倍并不明智。

我检查了 DUnit GUI 中的最后 3 个选项: - 报告关机时的内存泄漏类型 - 如果内存泄漏，则测试用例失败 - 忽略SetUp/TearDown中的内存泄漏

以下是示例代码:

    // form
    type

    TForm2 = class(TForm)
      button1: TButton;
    end;

    implementation

    {$R *.dfm}

    // test
    type

    TTest = class(TGUITestCase)
    private
      a: TForm2;
    public
      procedure SetUp; override;
      procedure TearDown; override;
    published
      procedure Test;
    end;

    implementation

    procedure TTest.Setup;
    begin
      a := TForm2.Create(nil);
    end;

    procedure TTest.TearDown;
    begin
      FreeAndNil(a);
    end;

    procedure TTest.Test;
    begin
      a.Show;
      a.close;
    end;

Answer 1

您已释放该表单两次。将操作设置为 caFree 会使表单自动释放自身。因此，要么删除 OnClose 方法，要么更好的是在测试本身中创建表单并删除 setup 和teardown 方法而不释放表单。 CaFree 会处理这个问题。